シリコン
ウェハーは、
集積回路(IC)やLSIといった
半導体デバイス製造に欠かせない、高純度のシリコン(珪素)から作られた薄片です。通常、直径数cm~数十cm、厚さ約1mmの円盤状をしており、その表面に微細な回路パターンを形成することで、様々な電子機器の心臓部となる
半導体チップが作られます。
シリコンウェハーの製造工程
シリコン
ウェハーの製造は、大きく分けてシリコンの精製、
単結晶成長、ウェーハ加工の3つの段階に分けられます。
1. シリコンの精製
まず、
ノルウェーや
ブラジルなどで採掘された
石英から、金属シリコンが生成されます。その後、
塩素や
水素との反応を経て、モノシランやトリクロロシランといったシラン化合物に変換され、
不純物が除去されます。さらに、
化学気相成長法(CVD)を用いて高純度の多結晶シリコンロッドが作られます。
精製された多結晶シリコンは、チョクラルスキー法(Cz法)やフローティングゾーン法(FZ法)といった手法を用いて
単結晶化されます。Cz法では、溶融したシリコンから種結晶を引き上げることで
単結晶インゴットを成長させます。この工程では、結晶の欠陥を最小限に抑えるため、種しぼりや磁場印加などの工夫が凝らされています。FZ法は、酸素濃度が低い高純度な結晶を得られる利点がありますが、大口径化が難しいという課題があります。
3. ウェーハ加工
単結晶インゴットは、まず円柱状のブロックに加工され、その後、ワイヤーソーなどを使用して薄くスライスされます。この後、
研磨、
エッチングなどの工程を経て、表面が鏡面のように平滑に
研磨されたシリコン
ウェハーが完成します。
具体的には、以下の工程を経て
ウェハーは完成します。
ブロック切断・外周研削: インゴットから円柱状のブロックを作成します。
方位加工: 結晶方位を測定し、オリエンテーションフラットを刻みます。
スライシング: ブロックを薄くスライスしてウェハーにします。
ベベリング:
ウェハーの端面を面取りして割れを防ぎます。
ラッピング: 表面を平滑にし、厚さを揃えます。
エッチング: 表面の微細な凹凸を除去します。
ドナーキラーアニーリング: 酸素原子を分散させ、電気的特性を向上させます。
エッジポリッシュ:
ウェハー端部を鏡面のように滑らかに
研磨します。
ポリッシング: 表面を極めて平滑な鏡面状態に研磨します。
洗浄:
RCA洗浄法などにより、付着物を除去します。
さらに、用途に合わせてエピタキシャル
ウェハーやアニール
ウェハーといった高度な加工が施された製品も存在します。
ウェハーの大口径化と高品質化
ウェハーの大口径化は、一枚あたりのチップ数を増やし、製造コスト低減に繋がります。現在、主流は300mm
ウェハーですが、450mm
ウェハーの開発も進められています。また、結晶欠陥の少ない高品質な
ウェハーへの需要も高まっており、より高度な製造技術が求められています。
半導体技術の進歩に伴い、シリコン
ウェハーには、より高性能、高密度、低コストといった要求がますます厳しくなってきています。そのため、大口径化、高品質化に加え、新たな材料や製造技術の開発が重要な課題となっています。