拡散接合
トランジスタは、
半導体基板に
ドーパントを拡散させて構造を形成する
トランジスタとして特徴づけられます。バイポーラ接合
トランジスタ(BJT)の製造において、拡散技術は従来の合金接合や成長接合プロセスに続く新たな手法として登場しました。特に、1954年には
ベル研究所が世界初の拡散接合型バイポーラ
トランジスタを開発したことが知られています。
1947年12月、
ベル研究所で開発された点接触型
トランジスタは、高周波特性が不安定で生産性にも限界がありました。そこで、性能改善を目指し合金接合型や成長接合型の
トランジスタが登場しました。しかし、これらの技術でもベース層を薄くすることには難しさが伴い、品質の安定性にも課題が残りました。1954年に
テキサス・インスツルメンツが最初の成長接合シリコン
トランジスタを製造したことからも、当時の技術の進展がうかがえます。
初期の拡散接合型
トランジスタは、合金エミッタやコレクタを持ち、ベースのみが基板に拡散された形状でした。一方で、特定の
トランジスタでは基板自体がベースの大部分を構成している場合もありました。1955年には
ベル研究所のカルビン・フラーによって、N型シリコンの
ウェハー上に
ホウ素の層を拡散させることに成功し、3層のNPN型サンドイッチに改良したことが評価されました。
フラーは、ドナーとアクセプターが同時に拡散されることでn-p-n構造を実現する新たな方法を確立しました。この方法により、ベース層の厚さは4μm、カットオフ周波数は120MHzを達成することができたと言われています。
さらに進化を遂げる中で、1955年にはメサ型
トランジスタが開発されました。これは、拡散したエミッタ、ベース、コレクタを利用した初めての
トランジスタでしたが、経年劣化を防ぐために高度な密封技術が求められることは変わりませんでした。
1957年には、
ベル研究所の科学者たちによって選択拡散法が発明され、これによりベース層をより薄くすることが可能となりました。1959年にフェアチャイルド・セミコンダクターのジャン・ヘルニによって開発されたプレーナー型
トランジスタは、この新たな技術を活用し、生産性を大幅に向上させることに成功しました。この
トランジスタは、従来の合金接合型
トランジスタに代わる大量生産を可能にし、瞬く間に市場のスタンダードとなりました。
初期のプレーナー型
トランジスタはスイッチング速度こそ遅かったものの、その後の技術革新により、コストを大幅に削減し、性能も急速に向上しました。このトレンドは特にモノリシック
集積回路の開発につながり、電子業界における重要な礎を形成しました。
結論
拡散接合
トランジスタの開発は、
トランジスタ技術に革命をもたらし、今日の電子機器における基盤を構築しました。その技術的進化は、今後の
半導体技術や電子デバイスの発展にも影響を与え続けることでしょう。