不純物半導体:特性と分類
不純物
半導体、または外因性
半導体とは、純粋な
半導体(真性
半導体)に微量の不純物元素(
ドーパント)を添加することで電気的性質を変化させた
半導体のことを指します。この添加過程をドーピングと呼びます。ドーピングによって、
半導体の電気伝導度を制御することが可能になります。
ドーピングする不純物元素の種類によって、
半導体は大きく2種類に分類されます。
N型半導体: 電子がキャリアとなる
半導体。
ケイ素などの4価の
半導体に、
リンや
ヒ素といった5価の不純物を添加することで生成されます。5価の不純物原子は
ケイ素原子と置き換わる際に、余剰
電子を発生し、これがキャリアとなります。
P型半導体: ホール(
正孔)がキャリアとなる
半導体。
ケイ素などの4価の
半導体に、
ホウ素や
アルミニウムといった3価の不純物を添加することで生成されます。3価の不純物原子は
ケイ素原子と置き換わる際に、
正孔(
電子が欠けた状態)を発生し、これがキャリアとなります。
どちらの種類の
半導体が生成されるかは、不純物元素と
半導体元素の
原子価の差によって決定されます。
原子価が
半導体元素より大きい不純物を添加するとN型、小さい不純物を添加するとP型になります。
不純物半導体の性質:電荷中性条件とキャリア密度
不純物
半導体の性質を理解する上で重要な概念として、電荷中性条件とキャリア密度があります。
電荷中性条件: 半導体内部では、正電荷と負電荷の総数は等しくなければなりません。この条件は、以下の式で表されます。
`n + NA = p + ND`
ここで、
`n`:
伝導帯の
電子濃度
`p`:
価電子帯の
正孔濃度
`NA`:
イオン化したアクセプター濃度(P型不純物の濃度)
`ND`:
イオン化したドナー濃度(N型不純物の濃度)
キャリア密度: ドーピングされた不純物がすべて
イオン化している理想的な状況では、
電子とホールの濃度は以下の関係にあります。
`np = ni²`
ここで、`ni`は真性キャリア密度(不純物を含まない
半導体における
電子とホールの濃度)です。
電荷中性条件と上記の式を用いることで、
N型半導体における
電子濃度`n`と
P型半導体におけるホール濃度`p`を計算できます。複雑な式になりますが、アクセプター濃度`NA`と真性キャリア密度`ni`が無視できる
N型半導体では`n ≈ ND`、ドナー濃度`ND`と真性キャリア密度`ni`が無視できる
P型半導体では`p ≈ NA`という近似式が成り立ちます。
フェルミ準位
フェルミ準位は、
電子が占有されている確率が1/2となるエネルギー準位です。不純物
半導体におけるフェルミ準位`EF`は、真性
半導体のフェルミ準位`Ei`、ボルツマン定数`k`、絶対温度`T`、
電子濃度`n`、真性キャリア密度`ni`を用いて以下のように表されます。
`EF = Ei + kT ln(n/ni) = Ei - kT ln(p/ni)`
真性
半導体のフェルミ準位`Ei`は
バンドギャップの中央付近に位置します。
N型半導体では、ドナー濃度が増加し
電子濃度`n`が高くなると、フェルミ準位は
伝導帯に近づきます。逆に
P型半導体では、アクセプター濃度が増加しホール濃度`p`が高くなると、フェルミ準位は
価電子帯に近づきます。
まとめ
不純物
半導体は、
半導体デバイスの基礎となる重要な材料です。ドーピングによって制御されたキャリア密度とフェルミ準位は、
ダイオードや
トランジスタなどの動作に大きく影響を与えます。これらの特性を理解することは、現代
電子工学の基礎となります。