光電効果

電効果:物質の相互作用による電子放出現象



電効果は、物質を照射した際に、電子が放出されたり電流が流れたりする現象です。この現象は、デジタルカメラの撮像素子や太陽電池など、私たちの身の回りにある多くの機器の動作原理として利用されています。

電効果には、大きく分けて外部電効果と内部電効果の2種類があります。一般的に「電効果」といえば外部電効果を指すことが多いです。内部電効果は起電力効果とも呼ばれます。

外部電効果:表面からの電子放出



外部電効果では、物質を照射すると、子のエネルギーが電子に伝えられ、電子物質の表面から放出されます。放出された電子電子と呼びます。この現象は、物質に特定の振動数以上のを照射した場合にのみ発生します。この最小の振動数を限界振動数(ν0)、それに対応する波長を限界波長(λ0)と呼びます。これらの値は物質の種類によって決まり、入射の強さには依存しません。

電子の放出の起こりやすさは仕事関数(φ)で表され、以下の式で表されます。ここで、hはプランク定数、cは速、eは電気素量です。


hν0 = ch/λ0 = eφ


外部電効果を利用した応用例として、電管、電子増倍管、撮像素子などのセンサがあります。これらのセンサでは、仕事関数の小さいアルカリ金属電面として用いられることが多いです。内部電効果を利用したものに比べて、暗電流が少なく線形性が高いという特徴があり、やX線の高感度検出や精密測定に用いられています。特に電子増倍管は、原子分析法などの研究開発や工業生産・測定現場で広く利用されている超高感度センサです。また、放出された電子のエネルギーや運動量を分析することで、物質内部のバンド構造や表面状態を調べることができ、電子法などの分析手法にも応用されています。

内部電効果:物質内部での電子励起



内部電効果は、半導体絶縁体に十分に短波長のを照射することで、物質内部の電子が励起され、電気伝導率が増加する現象です。伝導、または導電とも呼ばれます。半導体絶縁体では、価電子帯や不純物準位にある電子子のエネルギーを吸収し、伝導帯などに励起されます。この励起された電子電子と呼ばれます。伝導電子や正孔が増加することで、物質の導電率が増加します。これを伝導性、または導電性といいます。

電気伝導率の増加は、キャリアの電荷(e)、キャリアの寿命(τ)、移動度(μ)、体積・時間あたりの子数(f)、1子あたりに生じるキャリア数(量子効率)(η)を用いて表すことができます。

内部電効果は、半導体だけでなく、酸化物、硫化物、有機物など、様々な物質で見られます。

内部CMOSイメージセンサ'>[光]]電効果を用いたセンサには、フォトダイオード固体撮像素子]、[[光導電セル、太陽電池などがあります。これらのセンサは、低電圧で駆動可能、小型化しやすい、丈夫で長寿命といった利点があります。

電効果の歴史とアインシュタインの貢献



電効果に関する研究は19世紀から行われていました。1839年、ベクレルが起電力効果の研究において電流の関係性を見出しました。1887年にはヘルツが、1888年にはハルヴァックスが電効果を発見しました。レーナルトの研究によって、電子の放出は特定の振動数以上のでしか起こらないこと、入射の強度には依存しないことなどが明らかになりました。

しかし、これらの実験結果は、当時の波動理論では説明できませんでした。1905年、アインシュタインは量子仮説を導入することで、電効果を説明することに成功しました。アインシュタインは、は粒子性も持つと仮定し、子が電子にエネルギーを与えて放出させるというモデルを提案しました。この業績により、アインシュタインは1921年ノーベル物理学賞を受賞しました。1916年には、ミリカンの実験によって量子仮説が実験的に検証されました。

仕事関数



電効果において、電子物質から引き離すために必要な最小のエネルギーを仕事関数と呼びます。仕事関数は物質の種類によって異なり、電効果が起こるかどうかを決定します。

ミリカンの実験



ミリカンの実験は、電効果におけるアインシュタインの方程式を実験的に検証した重要な実験です。ミリカンの実験により、プランク定数の値が精密に求められ、量子仮説が確証されました。

電効果は、現代物理学において重要な基礎概念であり、様々な技術に応用されています。これからも電効果に関する研究は進展し、新たな技術開発に貢献していくでしょう。

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