半導体デバイス製造工程:設計からパッケージングまで
半導体デバイス製造は、シリコン
ウェハーという薄い円盤状の基板上に、微細な電気回路を形成する複雑なプロセスです。スマートフォン、
コンピューター、自動車など、現代社会のあらゆる電子機器に欠かせない技術です。この製造工程は、大きく分けて前工程、後工程、そして検査管理工程の3つの段階に分けられます。
1. 前工程:LSIチップの形成
前工程は、シリコン
ウェハー上に
集積回路(LSIチップ)を作る工程です。さらに、基板工程(フロントエンド)と配線工程(バックエンド)の2つの段階に細分化されます。
1.1 基板工程(フロントエンド、FEOL)
基板工程では、
トランジスタなどの基本的な回路素子を形成します。この工程は、
ウェハー表面の洗浄から始まり、以下の工程を何度も繰り返すことで、多層構造の回路が作られます。
1.
フォトリソグラフィ: ウェハーに
フォトレジストを塗布し、
フォトマスクを通して
紫外線を照射することで、回路パターンを形成します。露光されたレジストを現像し、エッチングによって不要な部分を除去します。
2.
薄膜形成: 化学気相
蒸着(CVD)、
物理気相成長(PVD)、
スパッタリングなどの手法を用いて、シリコン、
酸化膜、
金属などの薄膜を
ウェハー上に堆積させます。イオン注入によって、特定の不純物を
ウェハーに導入し、
トランジスタの特性を制御します。
3.
熱処理: ファーネスアニールやラピッドサーマルアニール(RTA)などの熱処理によって、イオン注入された不純物を
拡散させ、結晶構造を調整します。
4.
化学機械研磨(CMP): 各工程で形成された段差を平坦化することで、次の工程への準備を整えます。
これらの工程を何百回も繰り返すことで、複雑な回路パターンが形成されます。
1.2 配線工程(バックエンド、BEOL)
配線工程では、基板工程で形成された
トランジスタを接続する配線パターンを形成します。
1.
メタライズ: 金属薄膜(銅やアルミニウム)を堆積し、配線パターンを形成します。
2.
多層配線: 複数層の配線を重ねることで、高密度な配線を実現します。
2. 後工程:パッケージング
後工程は、前工程で完成したLSIチップを、外部と接続できるようパッケージングする工程です。
1.
バックグラインド: ウェハーの裏面を研磨して薄くします。
2.
ダイシング: ウェハーを個々のチップ(ダイ)に分割します。
3.
ダイボンディング: チップをパッケージ基板に固定します。
4.
ワイヤボンディング: チップとパッケージの端子を接続します。
3. 検査管理工程
製造工程の各段階で、電気的特性や物理的な欠陥を検査します。テストパターンを用いた検査や、工程管理システムによる品質管理が不可欠です。
半導体デバイスの製造は、高度なクリーンルーム設備と熟練した技術者を必要とするため、高額な設備投資が必要です。そのため、
半導体メーカー自身が製造を行うだけでなく、設計会社から製造を受託する
ファウンドリーと呼ばれる企業が台頭しています。TSMC、UMC、グローバル
ファウンドリーズなどが代表的な
ファウンドリーです。
半導体デバイス製造は、高度な技術と精密な工程管理を必要とする複雑なプロセスです。各工程の最適化によって、高性能で信頼性の高い
半導体デバイスが製造されています。